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當(dāng)前位置:首頁  >  產(chǎn)品中心  >  晶圓缺陷檢測  >  LAZIN  >  LODAS™ – BI12GlassWafe缺陷檢查裝置

GlassWafe缺陷檢查裝置

簡要描述:LODAS™ – BI12是列真株式會社推出的一款GlassWafe缺陷檢查裝置。

  • 產(chǎn)品型號:LODAS™ – BI12
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 產(chǎn)品資料:
  • 更新時間:2024-11-09
  • 訪  問  量: 1226

詳細(xì)介紹

列真株式會社自創(chuàng)業(yè)以來,秉承“挑戰(zhàn)"、“創(chuàng)造"、“誠實"的經(jīng)營理念,為顧客提供可靠、可信的產(chǎn)品和服務(wù)。運用激光掃描技術(shù),專門制造、銷售半導(dǎo)體材料表面及內(nèi)部檢查、石英玻璃表面檢查等檢查裝置。


特征:

  • Glass Wafer的出貨檢查、過程評價

  • 可同時檢查表面,背面和內(nèi)部的缺陷

  • 用微分干涉顯微鏡判斷、分析表面和背面的缺陷

  • 檢查對象:12inch、8inch、6inch、Glass Wafer

  • 檢查項目:表面和背面的顆粒、內(nèi)部缺陷

列真公司檢查裝置的維護(hù)、修理

  • 定期支持裝置安裝完成后的性能維持。

  • 24小時電話對應(yīng),全年無休的安心支持。

  • 認(rèn)真對待客戶新的要求。

  • 召開技術(shù)研討會和充實各種手冊,讓顧客能夠自行維護(hù)和更換零件。

  • 提供HDD、激光光源等消耗品的免費診斷服務(wù)。


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