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光學(xué)輪廓儀是一款用于對(duì)各種精密器件表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。它是以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過(guò)系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析，并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù)，從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌的3D測(cè)量的光學(xué)檢測(cè)儀器。光學(xué)輪廓儀采用光學(xué)非接觸式測(cè)量方法，它具有測(cè)量精度高、使用方便、分析功能強(qiáng)大、測(cè)量參數(shù)齊全等優(yōu)點(diǎn)，其*的光源模式，保證了它能夠適用于從光滑到粗糙等各種精密器件的表面質(zhì)量檢...

隔振臺(tái)為緊湊型的主動(dòng)隔振系統(tǒng)，是納米技術(shù)大型儀器隔振的最佳解決方案。對(duì)升級(jí)和整合到現(xiàn)有的需要低頻隔振功能的設(shè)備來(lái)說(shuō)是理想的選擇，本產(chǎn)品可自由選擇整個(gè)系統(tǒng)的尺寸大小和配置，通過(guò)增加隔振模塊的數(shù)量可以增大系統(tǒng)的承重。裝載設(shè)備：掃描電子顯微鏡，如AFM3D表面分析儀，激光顯微鏡，激光干涉儀，液體表面張力測(cè)量系統(tǒng)，顯微硬度測(cè)量?jī)x，醫(yī)療檢測(cè)設(shè)備等。隔振臺(tái)的分類：隔振技術(shù)分為主動(dòng)隔振和被動(dòng)隔振：1、主動(dòng)隔振：通過(guò)傳感器和執(zhí)行器，提供大小相等，方向相反的力，抵消振動(dòng)對(duì)目標(biāo)的影響；2、被動(dòng)隔...

三維形貌儀是一款便攜式表面形貌測(cè)量?jī)x，采用白光共聚焦技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)對(duì)材料表面從納米到毫米量級(jí)的粗糙度測(cè)試，具有測(cè)量精度高，速度快，重復(fù)性好的優(yōu)點(diǎn)，該儀器的測(cè)量探頭可以任意旋轉(zhuǎn)，適合精密測(cè)量不可移動(dòng)樣品表面形貌，同時(shí)適合進(jìn)行野外測(cè)試。本儀器是利用光學(xué)干涉原理研制開發(fā)的超精密表面輪廓測(cè)量?jī)x器。照明光束經(jīng)半反半透分光鏡分成兩束光，分別投射到樣品表面和參考鏡表面。從兩個(gè)表面反射的兩束光再次通過(guò)分光鏡后合成一束光，并由成像系統(tǒng)在CCD相機(jī)感光面形成兩個(gè)疊加的像。由于兩束光相互干涉，在CC...

光學(xué)形貌儀除了用于測(cè)量表面形貌或測(cè)量表面輪廓外，表面形貌儀具有測(cè)量晶圓翹曲度的功能，非常適合晶圓，太陽(yáng)能電池和玻璃面板的翹曲度測(cè)量，應(yīng)變測(cè)量以及表面形貌測(cè)量。光學(xué)形貌儀的使用特點(diǎn)說(shuō)明：1、光學(xué)形貌儀測(cè)量材料能夠使材料不被損壞，具有非破壞性。能夠同時(shí)測(cè)量多種材料，不僅方便快捷，還能保證測(cè)量的準(zhǔn)確度，大大節(jié)省了工作人員的時(shí)間，具有很高的效率性和便利性。2、測(cè)量范圍廣，應(yīng)用性強(qiáng)。不管是各種金屬、塑料、玻璃、紙、木頭，還是皮膚、牙齒、頭發(fā)以及各種材料，形貌儀都可以測(cè)量。3、采用白光共...

橢圓偏振儀是一種用于探測(cè)薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)以及材料微結(jié)構(gòu)的光學(xué)測(cè)量設(shè)備。由于并不與樣品接觸，對(duì)樣品沒(méi)有破壞且不需要真空，使得橢偏儀成為一種具吸引力的測(cè)量設(shè)備?；驹恚簷E圓偏光法涉及橢圓偏振光在材料表面的反射。為表征反射光的特性，可分成兩個(gè)分量：P和S偏振態(tài)，P分量是指平行于入射面的線性偏振光，S分量是指垂直于入射面的線性偏振光。菲涅耳反射系數(shù)r描述了在一個(gè)界面入射光線的反射。P和S偏振態(tài)分量各自的菲涅耳反射系數(shù)r是各自的反射波振幅與入射波振幅的比值。大多情況下會(huì)有多個(gè)界面，...